AData XPG+ 2200 C8 3x2GB

3. Sistema prova

 

Metodologia di test

La sessione di test sarà svolta in quattro modalità distinte:

1- Nella prima parte, verrà testata la stabilità del kit a frequenze di targa; i test non saranno valutati sotto l'aspetto delle perfomance, ma dal punto di vista della stabilità dell'intero sistema.

2- La seconda parte verterà sull'analisi delle perfomance velocistiche in termini di banda e latenze. Per eseguire questo tipo di test, utilizzeremo una configurazione fissa di cpu e scheda madre, in modo da avere dati veritieri e replicabili sulle prestazioni delle memorie. Analizzeremo quindi le perfomance espresse alla frequenza dichiarate dal costruttore, comparando i risultati con altri, ottenuti dai test svolti con due configurazioni differenti. Infine, effettueremo anche un'analisi delle memorie a frequenza costante variando solamente i timings.

3- Nella terza parte, valuteremo il comportamento in overclock delle memorie, utilizzando tensioni diverse entro un certo margine di sicurezza.

4- In conclusione, testeremo le memorie in specifica DDR3L per vedere se sono in grado di operare nelle condizioni descritte dallo standard Jedec "Low Voltage".

 

I benchmarks utilizzati per le prove di stabilità e di bandwidth sono: OCCT V3.0.1 con il test CPU LINPACK, svolto per almeno 10 minuti, SPI 32M, MemTest in modalità DOS e varie prove di misurazione della banda passante con AIDA64, MaxxMem e Sandra, per capire se le perfomance sono adeguate alle impostazioni

 

Sistema di Prova